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納米粒度及Zeta電位分析儀是用于表征分散型樣品和溶液中納米顆粒以及微米顆粒的儀器。它可通過(guò)測(cè)量動(dòng)態(tài)光散射 （DLS）、電泳光散射 （ELS） 和靜態(tài)光散射 （SLS） 來(lái)測(cè)定顆粒尺寸、zeta電位和分子質(zhì)量。
密度高或粒徑大的顆粒會(huì)沉積在測(cè)量室底部。ZetaCompact視頻追蹤式Zeta電位測(cè)定儀采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案，在垂直平面內(nèi)測(cè)量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布。
地址：北京市昌平區(qū)西三旗建材城西路新龍大廈A座2010室
郵箱：cici.ding@insearch-tech.com
傳真：86-10-81706682
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