粒度儀的注意事項

 

　　(1)分離顆粒的能力與粒度測試技術選擇

 

　　依據(jù)對顆粒的分離能力。將測量顆粒的技術分為單顆粒計數(shù)、顆粒分級和整體平均結果三類。圖像分析、顯微鏡是典型的單顆粒技術方法；分級方法包括篩分、沉降、離心和顆粒色譜等；整體平均的粒度分析方法，從收集到的所有測量顆粒產(chǎn)生信號的總和計算粒度分析，即測量結果由解析得到，是被測顆粒整體的平均，因此易于實現(xiàn)自動化和在線分析，但分辨率較低。用于催化劑工業(yè)生產(chǎn)的顆粒分析儀選擇整體平均的方法，實驗室研究多數(shù)情況希望獲得單顆粒技術與外貌信息，分級方法的選擇，應當結合測量顆粒性質與測量方式考慮。

 

　　(2)信息與技術指標要求

 

　　信息要求.是指給出結果的表達方式.可以是平均粒徑、累加頻率值、正態(tài)分布、分布寬度.也可用對數(shù)正態(tài)分布、非對稱分布寬度、多峰分布的各峰相對量，以及累加頻率的不同名義(如顆粒數(shù)、體積、面積等)表達。催化劑粒度分析zui有用的信息是平均粒徑和粒徑的顆粒數(shù)分布。

 

　　(3)測量基準

 

　　不同粒度儀技術的原理不同，原信息源和計量目標不同。例如光衍射法的原信息源是散射光強度，要求防止細顆粒中少數(shù)大顆粒對信息源的支配.電敏技術則按顆體積計數(shù)，因此各方法的基準不同，彼此不能簡單歸一同比。所以必須強調(diào)數(shù)據(jù)轉化因基準不同會帶來明顯的誤差。

 

　　(4)不同粒度儀技術的局限性

 

　　不同粒度分析技術都受其測量原理限制.如光衍射法不能測量小于光源自然線寬的顆粒；沉降法則既受制于大尺寸端亂流的影響，又受小尺寸端擴散(布朗運動)的限制。一些測量儀器也會因制作和操作規(guī)程帶來一定限制。有時測量技術還對測量樣品的準備提出限制，PCS測量必須使顆粒懸浮，電鏡制樣要求優(yōu)良分散。因此，了解測量技術的局限性和嚴格滿足其限制要求.對獲取正確測量結果非常必要。